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晶振如何做性能测试 | 无源晶振如何改小

作者: 扬兴科技 日期:2025-07-23 浏览量:
Q:无源晶振smd2520改小封装2016
A:无源晶振大尺寸改小尺寸,可参考鼎点娱乐规格书缩小焊盘尺寸即可替代使用


Q:晶振如何做性能测试
A:晶振的性能测试主要包括以下几个方面:
频率稳定性测试:将晶振置于稳定的环境中,使用频率计数器连续测量不同时间段的频率值,分析频率变化趋势;
频率准确度测试:将晶振的输出信号与已知频率的标准信号比较,使用频率计或频率合成器测量并计算频率偏差;
温度特性测试:将晶振放入温度控制箱,逐步改变温度,在每个温度点测量频率,评估其温度稳定性;
老化测试:在特定条件下长时间运行晶振,测量其频率变化,预测长期稳定性;
相位噪声测试:使用相位噪声测试仪测量晶振在不同频率偏移下的相位噪声性能;
通过以上测试,可全面评估晶振的性能,确保其满足电子设备的要求。

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